高低温温度冲击试验箱（左右吊篮冲击）：电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化，测试其材料对高、低温的反复测试。

一、型号：TSC-225PF-2P

二、冲击温度：-40~150

三、精度条件：高温~低温5分钟内达到，9点温度均匀度正负2度

高低温温度冲击试验箱（左右吊篮冲击）

1)试验样品应按标准要求放置在试验箱内,并将试验箱(室)内温度升到达点，保持一定的时间至试验样品达到温度稳定，以时间长都为准。

2)高温阶段结束后，在5min内将试验样品转换到已调节到-55℃的低温试验箱(室)内，保持1h或者直至试验样品达到温度稳定，以时间长都为准。3)低温阶段结束后，在5min内将试验样品转换到已调节到70℃的高温试验箱(室)内，保持1h或者直至试验样品达到温度稳定，以时间长都为准。

4、重复上述实验方法,以完成三个循环周期。根据样件大小与空间大小，时间可能会略有误差。恢复：试验样品从试验箱内取出后，应在正常的试验大气条件下进行恢复，直至试验样品达到温度稳定。

5.后检测：对照标准中的受损程度及其它方法进行检测结果评定。